新闻中心

       析仪有多种多样配置供选择：探测仪类型、光学元件类型、自动化技术配置，甚至台式或手持式分析仪。在本文中，我们将要讨论应用XRF测量电子元器件涂层所存在的考验，并探讨在制造环境里完成靠谱和快速测量的配置。

       外观设计要素：手持式或是台式XRF分析仪？

       手持式和台式分析仪都可以在绝大多数类型的板材上测量0.001-50μm（0.05-2000 微英尺）金属涂层厚度。二种配置该选用哪一个更在于应用性，而非特性。如果你测量的是很大的构件，有相对性大一点的涂层总面积，人眼非常容易见到（而且用手快速地将分析仪抵近及时），那样手持式分析仪是最佳选择。

        但是，很多电子元器件根本不是那样。这种电子元器件十分细微，必须通过光学显微镜和相机设备精准定位，并用高精密测角仪和专用型光学器件，来保证清晰地剖析正确特殊测量点。针对电子元器件而言，台式分析仪基本上一直大家所选择的类型。

       决定性因素：器件的尺寸大小待测特殊测量点尺寸。您能把你的元器件送到试验室吗？若不能得话，那样你需要一台手持式分析仪。你需要测量低于1mm面积吗？如果是这样的话，那样你需要一台台式分析仪。

       焦距类型：准直器或是毛细血管电子光学组织？

       分析仪的焦距将所产生的x放射线正确引导并聚焦到试品表层。所产生的光点务必低于你需要测量的零件，您选择的光学器件会由你的零件规格确定。

       析仪一般装有二种类型焦距中的一种：准直器或毛细血管电子光学组织。准直器是一个有孔金属块，一部分X射线数据信号根据孔抵达试品。针对测量100m和更多的零件，这是一个不错的选择。毛细血管电子光学组织应用特殊夹层玻璃毛细血管搜集绝大多数的X射线数据信号，并把它聚焦到一个非常小的点。这使得您可以测量低于50 m的零件。与准直器配置对比，由于使用了更高一些比例X射线，因而这项技术对较薄薄的涂层也得到更好的精密度。

       决定性因素：光点尺寸。针对低于50m的零件，你需要毛细血管电子光学组织，若超过此规格，准直器配置可能比较合适。

       探测仪类型：占比电子计数器或是硅飘移探测仪？

       析仪中分为两种类型的探测仪：占比电子计数器和根据半导体的探测仪，硅飘移探测仪（SDD）是比较常见的半导体材料探测仪。确定哪一种技术性最适合您的运用很有可能很棘手，因为这个二种技术的应用不同情况下都有各自的优势。

       占比电子计数器由稀有气体封装形式于金属材料圆柱中组成，当稀有气体遭受X射线跃迁的时候会产生水解。他们对像锡或银这种高效率能量元